全自動晶體觀察系統是一種用於數學領域的分析儀器，於2015年8月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：全自動晶體觀察系統
- 產地：美國
- 學科領域：數學
- 啟用日期：2015年8月1日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
1：具有高效、靈敏、穩定、針對蛋白質結晶觀察的全自動成像系統;2：可用於懸滴板、坐滴板、LCP板的觀察成像;3：多種觀察方法集於一體，可見光，UV光，可拍照，高效捕捉整個Drop內的晶體;4：圖像畫質好，圖像解析度高，拍攝技術領先;5：精確恆溫控制，整體式恆溫晶體培養系統，以確保實驗效果;6：光路系統可以使可見光和紫外光成像處於相同路徑中，或可見光路和紫外光路獨立光路成像。
主要功能
1. 是目前市場上最高的圖像解析度的儀器，實現1.66微米的圖像解析度。2. 最小光學解析度：設定自定義拍攝高解析度為0.83μm，業界最領先技術。3. 像素解析度：3.20μm/pixel-0.09μm/pixel，遠優於其他儀器。4. 可以實現1微米晶體的識別。
