全反射紅外光譜法

全反射紅外光譜法是一種紅外光譜分析的方法,可用於樣品深度方向及表面的紅外光譜測定。

基本介紹

  • 中文名:全反射紅外光譜法
  • 外文名:attenuated total reflectance method
全反射紅外光譜法 attenuated total reflectance method。又稱ATR法
可用於樣品深度方向及表面的紅外光譜測定。利用一特殊稜鏡(如TlBr和TLI作成的KRS-5稜鏡在250cm-1以上透明),在其兩面夾上樣品(詳見5.3.4),入射光經在樣品、稜鏡中多次反射後到達檢測器。入射光到達樣品表面的深度與入射波長、入射角以及稜鏡及樣品的折射率有關。此法用於測定不易溶解、熔化、難於粉碎的彈性或粘性樣品,如塗料、橡膠、合成革、聚氨基甲酸乙酯等表面及其塗層,也可用於表面薄膜的測定。

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