《光電測試技術（第2版）》是2018年1月機械工業出版社出版的圖書，作者是浦昭邦、趙輝。
基本介紹
- 中文名：光電測試技術（第2版）
- 作者：浦昭邦、趙輝
- ISBN：9787111286431
- 定價：36元
- 出版社：機械工業出版社
- 出版時間：2018年1月
- 裝幀：平裝
- 開本：16開
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
本書主要介紹了光度學的基本理論，講述了光電測試技術中的光源、光電變換和光學變換的基本原理和方法方面的知識。
圖書目錄
目錄
第2版前言
第1版前言
上篇技術基礎篇
第一章光電測試技術概論3
第一節信息技術與光電測試
技術3
第二節光電測試系統的組成3
第三節光電測試技術的展望及其
特點4
複習思考題16第二章光電測量的光學基礎7
第一節光譜光視效能和光度的
基本物理量7
一、光譜光視效能7
二、光度的基本物理量8
第二節光度學基本定律10
一、餘弦定律10
二、亮度守恆定律10
三、照度與距離的二次方反比
定律11
第三節光輻射在空氣中的傳播12
一、大氣衰減12
二、空氣湍流效應13
第四節光電測試技術中常用的
光學系統14
一、顯微光學系統14
二、望遠光學系統20
三、攝影系統24
四、投影光學系統26
複習思考題227第三章光電測量系統中的光源
與光源系統28
第一節光源的基本參數28
一、發光效率28
二、壽命28
三、光譜功率譜分布28
四、空間光強分布特性29
五、光源光輻射的穩定性29
六、光源的色溫和顯色性30
第二節光電測量的常用光源30
一、熱輻射光源30
二、氣體放電光源32
三、金屬鹵化物燈33
四、電致發光光源34
五、雷射光源37
第三節照明系統42
一、照明系統的設計原則43
二、照明的種類43
第四節光源及照明系統的選擇46
複習思考題347第四章光電測試常用器件48
第一節光電器件的性能參數48
一、光電器件的探測靈敏度48
二、回響時間和頻率回響49
三、噪聲等效功率50
四、探測度D與比探測度D*51
五、量子效率51
第二節光電發射器件52
一、光電發射效應52
二、光電真空器件及其特性56
第三節光電導器件62
一、光電導效應62
二、光敏電阻及其特性65
第四節光伏器件69
一、光伏效應70
二、光電池73
三、光敏二極體76
四、PIN光敏二極體80
五、雪崩光敏二極體81
六、光敏電晶體82
七、光電位置器件84
八、光伏器件的特性與使用要點85
第五節各種光子探測器件的性能
比較和套用選擇87
一、接收光信號的方式87
二、各種光子探測器件的性能
比較88
三、光子探測器件的套用選擇 88
第六節熱電探測器件89
一、熱電探測器的一般原理90
二、溫差電偶92
三、熱敏電阻及其特性94
四、熱釋電器件96
第七節光電成像器件99
一、像管99
二、真空攝像管102
三、固體攝像器件工作原理及其
參數107
四、CMOS成像器件工作原理
及其參數115
五、CID智慧型相機119
第八節光調製器件122
一、電光器件122
二、聲光器件126
三、磁光器件127
複習思考題4129
第五章光電檢測電路131
第一節光電檢測電路的設計
要求131
第二節光電檢測電路的靜態
設計131
一、光敏電阻電路的靜態設計132
二、光電倍增管電路的靜態
設計136
三、光電池電路的靜態設計138
四、光敏二極體電路的靜態
設計141
五、光敏電晶體電路的靜態
設計144
第三節光電檢測電路的
動態設計145
一、光電檢測電路的頻寬145
二、光電檢測電路的頻率特性146
第四節光電檢測系統的噪聲與
抑制151
一、噪聲的類型151
二、噪聲的等效處理153
三、典型光電檢測電路的噪聲
估算155
第五節前置放大及光電耦合
電路157
一、前置放大電路的設計157
二、光電耦合電路設計161
三、光電器件與運算放大器的
連線165
第六節光電檢測電路套用實例166
一、光電報警電路166
二、光電開關電路168
三、弱光檢測電路169
複習思考題5179 下篇套用技術篇
第六章光束的調製與掃描技術185
第一節光調製的基本概念185
一、調製的概念與分類185
二、調製的目的187
三、調製信息的頻譜187
第二節光信號的調製方法187
一、振幅調製188
二、頻率調製與相位調製189
三、脈衝調製190
四、編碼調製190
第三節光調製測量技術191
一、常用外調製技術191
二、直接調製技術199
三、調製信號的解調202
第四節光束掃描測量技術204
一、掃描方法和工作參數204
二、光束掃描測量211
複習思考題6218
第七章非相干信號的光電變換與
檢測219
第一節光電信號變換與光電
測量系統概述219
第二節直接檢測系統的工作
原理220
第三節隨時間變化的光電信
號變換與檢測方法221
一、幅值法221
二、頻率法223
三、相位和時間測量法224
四、光電測距的作用距離227
第四節隨空間變化的光電信號
變換與檢測方法229
一、幾何中心檢測法229
二、幾何位置檢測法232
三、亮度中心檢測法238
複習思考題7240
第八章相干變換與檢測方法241
第一節相干變換與檢測原理241
一、光學干涉和干涉測量241
二、干涉測量中的調製和解調242
第二節相干信號的相位調製與
檢測243
一、相位調製的干涉系統243
二、干涉條紋的檢測方法246
三、二次相位調製與干涉圖
分析248
第三節相干光外差檢測原理與
方法253
一、光學外差檢測原理253
二、外差檢測的調頻方法258
三、外差檢測方法262
複習思考題8268
第九章現代光電測試技術269
第一節概述269
第二節雷射測量技術269
一、雷射干涉測長技術270
二、共光路雷射干涉儀測量
技術274
三、雷射外差干涉測量技術276
四、雷射衍射測量技術283
五、雷射測距與跟蹤測量技術285
六、近場光學顯微鏡291
第三節視覺檢測技術292
一、視覺檢測系統的組成293
二、典型視覺檢測系統293
三、視覺檢測圖像處理基礎299
第四節光纖測量技術305
一、光纖測量技術概述305
二、強度調製型光纖測量技術308
三、相位調製型光纖測量技術311
四、偏振調製型光纖測量技術315
五、頻率調製型光纖測量技術317
六、光纖光柵感測技術318
複習思考題9322
參考文獻323
