光纖特性綜合分析儀

光纖特性綜合分析儀是一種用於電子與通信技術領域的物理性能測試儀器，於2000年03月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：光纖特性綜合分析儀
• 產地：美國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2000年03月01日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器 > 光纖多參數測量儀

技術指標

波長掃描範圍： 700 to 1700 nm; 光譜寬度：＜10 nm (standard);波長精度： ± 3 nm; 波長重複性：＜1 nm; 光功率穩定性：＜0.002 dB。

主要功能

可對單模光纖從700nm~1700nm波長進行掃描，快速得出譜損耗、截止波長、模場直徑的光學參數。