光片

是一面被磨平並拋光過的礦石小標本。磨光面要求平滑如鏡，硬礦物和軟礦物的相對突起不過於明顯，不應有小坑、細裂縫或擦痕存在。碎屑礦物用各種膠結物（如電木粉）膠結後也可磨成光片。光片的質量好壞直接影響鑑定工作。

基本介紹

• 中文名：光片
• 外文名：polished section
• 學科：岩礦分析與鑑定
• 含義：被磨平並拋光過的礦石小標本

概述

學科：岩礦分析與鑑定

詞目：光片

英文：polished section

簡介

在偏光顯微鏡及反光顯微鏡下研究工藝岩石（爐渣等）、工藝礦石（燒結礦、球團礦）以及天然岩石的礦物組成、晶體大小、含量及其結構、構造特徵時，必須將上述樣品磨製成高質量的光片、光薄片及薄片等礦片。礦片的磨製質量對鑑定礦物和觀察結構特徵影響極大，如果磨製的礦片質量不好，常常會影響鑑定工作的準確性。因此，必須學會磨製高質量的光片、薄片。

光片的磨製

工藝礦石（人造富礦）或天然礦石的不透明礦物或半透明礦物，如磁鐵礦、赤鐵礦及褐鐵礦等金屬礦物，應磨製成一個大約為2CM×1.5CM×1CM的長方形光片。礦石光片的磨製過程如下。

（1）樣品準備選擇有代表性的鐵礦石或人造富礦等樣品。十分緻密而堅固的樣品可直接磨製；疏鬆散粒的樣品，可先用樹膠膠結加固後，再進行磨製。磨製光片所用礦石塊，可先用切片機，將礦塊切成略天於2CM×1.5CM×1CM（或2.5CM×1.5CM×1CM）長方形礦石塊，然後進行磨製。

（2）粗磨將切下的礦石塊放在磨片機上進行精磨，選用120號～150號金剛砂把礦石磨成2CM×1.5CM×1CM至2.5CM×1.5CM×1CM的長方形礦石光片，然後再用清水洗淨。

（3）細磨為了防止光片在細磨時有疏鬆碎屑掉下，在細磨前要用樹膠膠結，再用400號～500號金剛砂在細而平的鐵盤上進行細磨，直到把粗磨痕跡磨去為止，而後用清水洗淨，洗淨後換用800號～1000號的金剛砂進行研磨，直到把400號～500號金剛砂細磨留下的痕跡磨去為止，用清水洗淨。最後用氧化鋁泥漿在玻璃板上精磨，磨到削除所有擦痕，使光片表面光滑有發光感覺時，再用清水洗淨。

（4）拋光將磨好的光片在拋光機上拋光。拋光時可根據礦物軟硬程度不同，選擇不同的磨料和拋光布。一般陸地工人礦石，如鐵礦石、燒結礦和球團礦等用氧化鉻粉在絲絨上進行拋光，效果很好。光片拋光後在清水中漂洗，再用乾絲絨和鹿皮把光面輕輕擦乾，切忌用手摸。

（5）編號光片磨成之後，必須隨即編號，以免混淆。編號時，可先在光片的側面或底面塗上白漆，然後以繪圖墨水或黑、紅油漆寫上編號。這些工作做完後，即可供礦相顯微鏡觀察、鑑定和研究。人造富礦光片用完後，最好放在乾燥保存，以免光片粉化。

光薄片的磨製

準確地鑑定天然礦石、人造富礦中的透明礦物和半透明礦物（如橄欖石、矽灰石及鐵酸鈣等）的組成和它們與不透明礦物之間的關係，需要製成樣品厚度為0.03MM的透明光薄片。製作方法是把礦石切成略大於2.5CM×1.5CM×1CM的長方形或其他形狀的礦塊，先將其一面粗磨；細磨直到玻璃板上細磨後，在清水中清洗。用固體光學樹膠，把細拋光面粘在玻璃片上，再反過來經粗磨到細磨一直磨到厚度為0.03MM，然後在拋光機上拋光，製成既當薄片用（用以在偏光顯微鏡下鑑定透明礦物或半透明礦物），同時又能當光片用（用以在礦相顯微鏡下鑑定不透明礦物）的光薄片。這種光薄片可以在同一片子上研究不透明礦物和透明礦物或半透明礦物的相互關係。對研究人造富礦來說，製成薄片易於保豐，放在乾燥器中長久保存不致粉碎。

薄片的磨製

薄片是用以在偏光顯微鏡下研究天然岩石、礦石及工藝岩石、礦石中的透明礦物的片子。樣品準備和磨製過程基本上與光薄片同。只是樣品磨到厚度為0.03MM後，不必拋光，但是要用液體光學樹膠把蓋玻片粘在礦片的表面上。薄片是由很薄的礦片、載玻片及蓋玻片所組成。疏鬆樣品在磨製薄片前，須浸在樹膠中煮膠，然後再製成薄片。

在磨製自熔性或高鹼度燒結礦以及某些工藝岩石的薄片時，由於其中有些礦物易被水浸蝕，可考慮用煤油或無水乙醇等作為細磨時的研磨劑。

光片和薄片的區別

1、切片方式不同
薄片要把岩石切至0.03mm以下，用樹膠貼在載玻片下便於觀察岩石的礦物組成等岩相學和岩組學特徵。光片不需要載玻片或是蓋玻片，只需要把岩石表面拋光。
2、實驗儀器不同
薄片：主要用透射光顯微鏡 光片：用反射光顯微鏡。不過現在高級的顯微鏡同時配備有透射和反射光路。
3、磨片目的不同
薄片：主要是對岩石中的透明礦物進行觀察，適用於一般岩石。但是若岩石中含有金屬礦物，等無法判別。
光片：適用於礦石中礦石礦物（方鉛礦、黃銅礦等）的判別。

岩礦薄片、光片鑑定樣品及標本採集

1.樣品規格：
陳列標本的大小不應小於3×6×225px；供薄片、光片鑑定用樣品以能滿足切制光片、薄片及手標本觀察的需要為原則，規格不限。
2.採樣要求
①沉積岩 對工作區內各時代地層的每一種代表性岩石均應按地層層序系統採樣，同時也要適當採集能反映沿走向變化情況的樣品；有沉積礦產的地段和沉積韻律發育地段，應視研究的需要而加密採樣點。
②岩漿岩 在每個岩體中按相帶系統採集各種代表性岩石樣品，在各相帶間的過度地段應加密採樣點；對岩體的下列地段及地質體均應採集樣品：析離體、捕擄體、同化混染帶、脈岩、岩體各類圍岩、接觸變質帶、岩體冷凝邊等；對各種類型的火山岩，按其層序及岩性，沿走向和傾向系統採樣。
③變質岩 根據岩石變質程度按剖面系統採樣，並注意樣品中應含有劃分變質帶的標誌礦物；對不同夾層、殘留體（由邊緣至中心）、各種混合岩應系統地分別採樣。
④礦石
應按不同自然類型、工業類型、礦化期次、礦物共生組合、結構、構造、圍岩蝕變的礦石，以及根據礦石中各有用礦物的相互關係，有用礦物與脈石礦物的相互關係等特徵分別採集礦石樣品。對於礦石類型複雜，礦物組合變化大的礦體，還應選擇有代表性的剖面系統採樣，以便研究礦石的變化規律。在對礦石採集光片鑑定樣品的同時，為研究其中透明礦物及其與金屬礦物的關係，應注意適當採集薄片、光薄片鑑定樣品。
當對各類岩石和礦石採集化學全分析樣品，同位素地質年齡測定樣品時，應同時採集岩礦鑑定樣品。應注意採集反映構造特徵的標本，若小型標本不足以反映岩石、礦石的特殊構造時，可根據需要採集大型標本；若採集定向標本，則應註明產狀方位；採集極疏鬆和多孔樣品時，可先用丙酮膠（廢膠捲溶於丙酮製成）浸透岩石、礦石，待膠結乾涸後再採集樣品。無特殊情況（如研究風化岩石、礦石），一般應採集新鮮樣品。對於岩石標本，有時可適當保留部分風化面，以便更好地再現它的野外直觀特徵。
3.樣品的編錄
樣品採集後，應在採樣現場按採樣目的，將欲切製成光片、薄片等部位，用醒目的色筆圈出。在一般情況下，應使切片平面垂直於層理、礦脈等延向。然後編號、登記、填寫標籤（同時註明切片種類、數量）等，尤其須在記錄本上註明採樣位置、編號、採樣目的等。