光斑定位技術

內容簡介

《光斑定位技術》圍繞基於光斑位置檢測的雷射檢測技術展開，詳細論述了光電測量的分支——光斑定位技術及其套用。全書共分為兩篇：第一篇重點闡述光斑位置檢測技術的原理及相關器件；第二篇詳細論述了光斑定位技術在同軸度測量、傾角測量、表面三維形態監測、牙頜局部變形及咬合運動虛擬再現等方面的套用。

《光斑定位技術》內容涉及光學、機械、電子、計算機等諸多學科的交叉滲透，以軍事、醫學和水電領域的實際需求為背景，以光斑位置測量技術為基礎，是光電測量技術理論與實踐的統一體。

《光斑定位技術》可以作為計算機測量、雷射檢測等專業的高校學生理論聯繫實踐的輔導教材，還可作為相關領域科研人員的參考資料。

圖書目錄

第一篇光斑定位技術

第1章光電測量技術

1．1 引言

1．2 光電測量技術特點與分類

1．2．1 光電測量技術特點

1．2．2 光電測量技術分類

第2章光斑位置檢測技術

2．1 光斑位置測量技術

2．1．1 光斑位置測量概述

2．1．2 光斑位置測量技術

2．2 光斑位置測量技術套用

2．2．1 同軸度測量技術

2．2．2 建築變形測量技術

2．2．3 光學三維面形測量技術

2．2．4 雷射三維面形測量技術

2．2．5 運動測量技術

2．3 光斑位置測量中的數據處理

第3章光斑位置檢測器件

3．1 實現光斑位置檢測的器件

3．1．1 CCD器件

3，1．2 CMOS圖像感測器

3．1．3 PSD器件

3．2 半導體雷射準直光源

3．2．1 雷射二極體（LD）

3．2．2 準直透鏡

3．2．3 整形稜鏡

3．2．4 驅動電路

3．3 PSD器件

3．3．1 橫向光電效應簡介

3．3．2 PSD性能指標

3．3．3 影響PSD測量精度的因素

3．4 PSD光斑定位技術

3．4．1 PSD套用的原則

3．4．2 光斑定位算法

3．4．3 與光斑定位有關的二維錶快速檢索算法

3．4．4 PSD器件非線性誤差的神經網路修正方法

3．4．5 一維光斑位置感測器非線性誤差修正

3．5 環境光的影響與消除

3．5．1 環境光的影響模式

3．5．2 消除環境光影響的方法

3．5．3 試驗結果

3．6 用一維PSD實現二維檢測

3．6．1 擴大PSD量程的方法

3．6．2 用一維PSD實現二維檢測

3．7 光線定位技術

3．8 CMOS圖像感測器用作光斑位置感測器的研究

3．8．1 結構形式及物鏡幾何畸變的校正

3．8．2 基於OV9120的光斑位置感測器設計

光斑定位技術

基本介紹

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