光掃描顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2009年10月21日啟用。
基本介紹
- 中文名：光掃描顯微鏡
- 產地：美國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2009年10月21日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
真空度1E-10Torr, 低溫10K，橫向解析度1Å,縱向解析度0.5Å。
主要功能
STM形貌掃描，測量隧道電子譜，原子搬運。
光掃描顯微鏡
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