光學傳遞函式工作基準裝置

光學傳遞函式工作基準裝置是一種用於物理學、工程與技術科學基礎學科、電子與通信技術、航空、航天科學技術領域的計量儀器，於2009年10月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學傳遞函式工作基準裝置
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、工程與技術科學基礎學科、電子與通信技術、航空、航天科學技術
• 啟用日期：2009年10月22日
• 所屬類別：計量儀器 > 光學計量儀器

技術指標

1.用平凸標準鏡頭對調製傳遞函式進行校準測量，實測值與理論計算值最大偏差，軸上0.03，軸外0.04； 2.用平凸標準鏡頭對相位傳遞函式進行校準測量，實測值與理論計算值最大偏差8度。 3.EFL的測量精度為+/-1％。

主要功能

1.主要套用於可見光波段範圍內對光學系統進行像質評價，測量儀器提供了無限共軛布局時自動、手動兩種測量方式。 2.被測量系統的入瞳直徑小於200mm、光譜範圍：（0.4～0.95）μm、視場角度0°～±60°、像平面尺寸在全視場分別可到達垂直方向50mm和水平方向100mm、像方最大空間頻率（0～1000）lp/mm。 3.該測量儀提供的可測量的技術參數包括：調製傳遞函式（MTF）軸上和軸外的子午和弧矢兩個方位、相位傳遞函式(PTF)、線擴散函式(LSF)、刃邊擴散函式(ESF)、有效焦距（EFL）、法蘭焦。