偏光干涉在物體幾何形貌檢測中的套用

偏光干涉在物體幾何形貌檢測中的套用是由天津大學完成的科技成果，登記於2004年11月27日。

基本介紹

• 中文名：偏光干涉在物體幾何形貌檢測中的套用
• 完成單位：天津大學
• 類別：科技成果
• 登記時間：2004年11月27日

成果信息

成果名稱	偏光干涉在物體幾何形貌檢測中的套用
成果完成單位	天津大學
批准登記單位	天津市科學技術局
登記日期	2004-11-27
登記號	津20041081
成果登記年份	2004

成果完成人

高翔；張國雄；李真