倒置螢光顯微鏡系統

倒置螢光顯微鏡系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2017年12月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：倒置螢光顯微鏡系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2017年12月31日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

1、技術指標高級倒置式螢光顯微鏡主機採用ICCS光學系統，總放大倍數：50x-1000x。觀物鏡：均帶有EC反差增強標識，共5個物鏡，可同時適用於以上所有觀察方式。物鏡轉盤：6孔編碼式多功能物鏡轉換器，可最多同時安裝6個物鏡。觀察試樣高度：≥105mm。機械式載物台：載物台≥320×200mm，X方向移動尺寸≥130mm，Y方向移動尺寸≥80mm。聚光鏡：6功位長工作距離聚光鏡，工作距離≥25mm，數值孔徑≥0.55。

主要功能

主要用於檢測各類溫室透光覆蓋材料各類塗層的厚度及檢測新型材料結構構件的斷面破壞情況。