基本介紹
- 中文名：俄歇分析法
- 屬性：消防術語
（GB/T 16840.3-2021）規定了電氣火災痕跡物證技術鑑定方法當中俄歇分析法的原理、設備、器材與試劑、檢材、方法步驟和成分特徵，適用於在火災調查時，對火災現場中提取的銅導線短路熔痕截面上孔洞內表面採用俄歇電子能譜儀進行成分分析...
俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要藉由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生於受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使後者逃脫離開...
俄歇電子能譜（AES）具有很高的表面靈敏度，其檢測深度約為3～10原子單層（0.4nm～5nm），檢測極限為10原子濃度，空間解析度可達到4nm，可用於分析除氫和氦以外（Li-U）元素的定性、定量分析，廣泛用於材料的表面化學分析。因此，制定...
表面分析方法有數十種，常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析，其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及場離子顯微鏡分析等。離子探針分析 離子探針分析，又稱離子...
電子能譜分析是研究和探索物質“表面科學”最直觀和最有效的方法。類型 根據所採用的激發源的不同，電子能譜分析主要可分為以下兩大類：一是光電子能譜（簡稱PES）；二是以電子束作激發源去照射樣品，測量樣品所發射出的俄歇電子能量...
X射線晶體結構分析法是利用X射線與晶體相互作用產生衍射現象,探測衍射譜的分布位置和強度，進行晶體微觀結構分析的技術。主要有用於測定晶體結構、點陣常數、晶粒大小，研究晶體內應力和點陣畸變的多晶體分析方法。主要有以下幾種：俄歇電子能...
微結構分析方法主要有光電子能譜技術、光譜分析技術、顯微分析技術、X射線分析技術等。光電子能譜技術包括X光電子能譜(XPS)和俄歇光電子能譜(AES)；光譜分析掛術包括紅外光譜(IR)和Raman光譜；顯微分析技術中有掃描隧道顯微鏡(STM)，...
因此,套用X射線能譜分析法和俄歇電子能譜分析法確定沿晶斷裂面的化學成分，對從冶金因素來認識材料的致脆原因，提出改進工藝措施有指導意義。解理斷裂 屬於一種穿晶脆性斷裂，根據金屬原子鍵合力的強度分析，對於一定晶系的金屬，均有一組...
同時，本書還簡要介紹了低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、場離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道與原子力顯微鏡以及X射線光電子能譜儀等顯微分析方法。書中的實例分析引入了材料組織結構研究方面的新成果。書中還附有練習題部分，通過對題目的...
12．6 X射線光譜分析及套用 第13章 X射線光電子能譜分析 13．1 X射線光電子能譜分析的基本原理 13．2 X射線光電子能譜實驗技術 13．3 X光電子能譜的套用 第14章 俄歇電子能譜 14．1 俄歇過程理論 14．2 俄歇電子譜儀 14．...
及分析268 第六節電子背散射衍射技術數據處理272 習題277 第十四章其他顯微分析方法278 第一節離子探針顯微分析278 第二節低能電子衍射分析280 第三節俄歇電子能譜分析284 第四節場離子顯微鏡與原子探針289 第五節掃描隧道顯微鏡與原子力...
而不像俄歇電子譜那樣還有級間躍遷，因此譜線簡單易認。次級離子質譜 用一定能量的離子束轟擊固體表面，再用質譜儀分析從表面濺射出來的次級離子的質荷比，可以得到表面元素的信息。這種方法因採用質譜分析,對於一些元素具有很高的靈敏度,...
材料研究方法是材料專業的核心課程，也是全中國博士研究生入學考試的必考科目。開課信息 （表格內容參考資料）課程簡介 材料研究方法課程首先介紹晶體學基礎知識，然後介紹X射線的物理基礎、X射線衍射的方向與強度、多晶體X射線衍射分析的方法...
第8章表面分析技術150 81X射線光電子能譜150 811X射線光電子譜基本原理150 812結合能151 813化學位移152 814X射線光電子能譜分析方法154 815X射線光電子能譜儀159 82俄歇電子能譜161 821...