《使用光子計數光電檢測器以檢測壽命的系統及方法》是寬騰矽公司於2019年8月29日申請的專利，該專利公布號為CN112930476A，專利公布日為2021年6月8日，發明人是班傑明·西普里亞尼。
基本介紹
- 中文名：使用光子計數光電檢測器以檢測壽命的系統及方法
- 授權公告號：CN112930476A
- 授權公告日 ：2021.06.08
- 申請號：2019800716597
- 申請日：2019.08.29
- 申請人：寬騰矽公司
- 地址：美國康乃狄克州
- 發明人：班傑明·西普里亞尼
- Int. Cl.：G01N21/64(2006.01)I; C12Q1/6869(2006.01)I
- 專利代理機構：北京品源專利代理有限公司11332
- 代理人：譚營營; 胡彬
- 優先權：62/724,167 2018.08.29 US
- PCT進入國家階段日：2021.04.28
- PCT申請數據：PCT/US2019/048824 2019.08.29
- PCT公布數據：WO2020/047262 EN 2020.03.05
專利摘要
本發明描述使用被配置以執行光子計數的光電檢測器來檢測發光分子的壽命的系統及方法。所述系統及方法可涉及用於檢測從可包含所述發光分子的樣本發射的光子的光電檢測器陣列及與該光電檢測器陣列相關聯的檢測電路。該檢測電路可被配置以在至少第一時間周期及第二時間周期期間計數該光電檢測器陣列中的光電檢測器處的入射光子數量。
