低維半導體器件與表征測試

《低維半導體器件與表征測試》,華東師範大學提供的慕課課程,授課老師是吳幸、王超倫。

基本介紹

  • 中文名:低維半導體器件與表征測試
  • 提供院校:華東師範大學
  • 類別:慕課
  • 授課老師:吳幸、王超倫
課程大綱,參考教材,

課程大綱

01
低維材料
課時
1.1 緒論以及石墨烯
1.2 超越摩爾定律的新型低維材料
02
低維半導體器件
課時
2.1 場效應電晶體
2.2 感測器
2.3 存儲器
03
電學測試方法
課時
3.1 電阻率與方塊電阻
3.2 摻雜測量
3.3 接觸電阻
04
新興表征技術
課時
4.1 X射線衍射技術
4.2 紅外和紫外光譜分析及拉曼測試技術
4.3 掃描隧穿顯微鏡技術
4.4 原子力顯微鏡技術
4.5 掃描電鏡技術
4.6 透射電鏡技術
4.7 原位透射電鏡技術

參考教材

《石墨烯——結構、製備方法與性能表征》朱宏偉,清華大學出版社
《半導體材料與器件表征技術》Dieter K. Schroder,大連理工大學出版社
《新材料表征技術》張霞,華東理工大學出版社
《材料分析方法》周玉,機械工業出版社

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