《低溫絕緣材料局部放電特性與電老化機理的研究》是依託清華大學，由高文勝擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：低溫絕緣材料局部放電特性與電老化機理的研究
- 依託單位：清華大學
- 項目負責人：高文勝
- 項目類別：面上項目
- 負責人職稱：研究員
- 批准號：50577038
- 研究期限：2006-01-01 至 2008-12-31
- 申請代碼：E0705
- 支持經費：27（萬元）
項目摘要
低溫下介質的絕緣特性已成為影響超導設備性能和運行可靠性的重要因素。低溫下絕緣材料一般不存在通常意義的熱老化問題。但在低溫複合絕緣中，由於低溫液體潛熱小，容易產生氣泡，而高分子材料由於低溫收縮和低溫脆性，容易產生裂紋，因此，低溫絕緣材料的局部放電是導致材料電老化的主要原因。由於在低溫環境下局部放電的產生、發展、最終導致絕緣擊穿的過程將受到壓力、電極特性、氣泡運動方式等多種因素的影響，較之傳統絕緣中發生的放電過程更為複雜。因此到目前還沒有形成統一的檢測和評價方法。本申請通過研究低溫環境下典型絕緣材料的局部放電特性，以及不同類型、不同程度的放電對絕緣材料老化過程的影響，建立根據局部放電水平判斷電老化程度的非破壞性方法，並給出提高低溫絕緣材料抗電老化的技術措施。這些研究成果將有助於提高超導設備可靠性，對保證超導設備安全和穩定運行具有指導作用。
