低溫測試系統

低溫測試系統是一種用於物理學領域的儀器，於2017年08月02日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2017年08月02日

技術指標

4.3K - 350K。

主要功能

提供低溫真空環境。