低溫強磁場掃描近場微波阻抗顯微譜儀是一種用於信息科學與系統科學、材料科學、物理學領域的分析儀器，於2018年11月26日啟用。
基本介紹
- 中文名：低溫強磁場掃描近場微波阻抗顯微譜儀
- 產地：美國
- 學科領域：信息科學與系統科學、材料科學、物理學
- 啟用日期：2018年11月26日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
空間分辨: 10 nm 室溫掃描面積: 50um×50um 低溫掃描面積 40 um×40um 微波頻段: 3 GHz 溫度範圍: 4 - 300K 磁場範圍: -9T - 9T。
主要功能
該設備以微波作為信號源，能對材料進行電導率和介電常數方面的無損測量；對於半導體材料可以探究其局部摻雜類型以及摻雜濃度的高低；設備所具備的低溫強磁場環境還可以為超導材料等新型量子材料進行多維度的測量和物性探究。
