低溫吸收光譜儀

低溫吸收光譜儀

低溫吸收光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。

基本介紹

  • 中文名:低溫吸收光譜儀
  • 產地:英國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2016年11月28日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

吸收光譜測試範圍:250-1700nm ;溫度測試範圍:77K-598K;螢光光譜及壽命測試波長範圍:200-5500nm;螢光激發源波長範圍:250-1000nm;螢光壽命激發波長範圍:200-1000nm;壽命測試範圍:10ns-10s;雷射器:808nm,980nm。

主要功能

測試粉體,塊體以及液體的高溫,低溫,室溫的螢光光譜以及壽命測試。

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