低溫位移系統

低溫位移系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2018年5月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫位移系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2018年5月10日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

可移動行程範圍：X,Y軸為20mm,感測器解析度約為200nm，重複性為1-2um。

主要功能

低溫位移系統用於在共聚焦系統中作為樣品的載台，為樣品提供可自由移動的自由度。由於實驗中測量的樣品中有源區的尺寸都在nm量級（約為60nm），且工作在低溫下（約為4K），所以需要使用低溫下可以在nm級別移動的位移台。套用方向可以包括給量子點進行螢光表征、SiC缺陷、二維材料、NV色心以及其他固態發光材料進行低溫光學測試。