乾濕二合一雷射粒度分析儀

乾濕二合一雷射粒度分析儀是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的物理性能測試儀器，於2011年11月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：乾濕二合一雷射粒度分析儀
• 產地：中國
• 學科領域：材料科學、交通運輸工程
• 啟用日期：2011年11月14日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀

技術指標

1、粒徑測量範圍0.1-1000μm，重複性誤差（D50值）＜±3％；2、數據採樣持續時間1-100s；3、獨立探測單元數54。

主要功能

適用於粉體、乳液及膠體顆粒粒度分布的測量。輸出項目包括：粒度分布表、粒度分布曲線、中位徑、特徵粒徑、寬度係數、比表面積、行業用分段顆粒百分比含量、80μm百分含量（細度）、其他粒度綜合參數等。