《多道分析器(第1部分):是一本圖書，由中國標準出版社出版。主要技術要求與試驗方法(GB/T 4833.1-2007)》的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄G是資料性附錄，附錄F是規範性附錄。本部分由全國核儀器儀表標準化技術委員會提出。本部分由核工業標準化研究所歸口。本部分起草單位：核工業標準化研究所、清華大學、中國原子能科學研究院。本部分主要起草人：王經謹、熊正隆、潘大金、劉以農、肖晨。
基本介紹
- 書名：中華人民共和國國家標準：多道分析器
- 作者：王經謹、熊正隆、潘大金、劉以農、肖晨
- 出版社：中國標準出版社
- 出版時間：2008年2月1日
- 頁數：38 頁
- 開本：16 開
- ISBN：155066130596
- 語種：簡體中文
目錄
引言
1範圍
2規範性引用檔案
3術語和定義
4符號和縮略語
5主要技術要求
5.1基本性能
5.2技術指標
6試驗要求
6.1試驗儀器
6.2預熱
6.3試驗條件
6.4附加誤差的試驗
7試驗方法
7.1最小和最大可測信號脈衝幅度
7.2道寬（變換係數）
7.3零點
7.4積分非線性
7.5微分非線性
7.6道輪廓的非矩形係數（選測）
7.7死時間
7.8最高可測脈衝頻率
7.9死時間計數損失的校正誤差（選測）
7.10系統通過能力（選測）
7.11計數率引起的道址相對漂移和能量解析度的變化
附錄A（資料性附錄）多道分析器的性能參數和技術指標——多道分析器選擇指南
附錄B（資料性附錄）峰位（模態道）的計算
附錄C（資料性附錄）測量局部微分非線性的補充方法
附錄D（資料性附錄）微分非線性的快速檢測法
附錄E（資料性附錄）平均死時間輔助試驗方法
附錄F（規範性附錄）計數率變化引起的道址相對漂移
附錄G（資科性附錄）本部分與IEC61342的關係
圖1測量多道分析器的最小可測脈衝幅度和最大可測脈衝幅度的方框圖
圖2測量多道分析器的道寬、零點和積分非線性的方框圖
圖3零點、偏置和幅度擬合直線
圖4測量局部微分非線性的滑移脈衝幅度隨時間變化圖
圖5多道分析器微分非線性試驗設備框圖
圖6用於確定微分非線性的譜形狀
圖7測量積分非線性時的誤差函式E（m）
圖8測量多道分析器微分非線性的閃爍計數法
圖9測量死時間的框圖
圖10測量最高可測脈衝頻率的框圖
圖11試驗死時間校正誤差的框圖
圖12計數率引起的道址相對漂移和能量解析度變化的試驗框圖
表1多道分析器的基本性能
表A.1性能參數和技術指標
