《一種自帶AD9361晶片的系統的多通道測試方法及裝置》是中國電子科技集團公司第三十八研究所於2018年11月23日申請的專利，該專利公布號為CN109462460B，專利公布日為2021年6月18日，發明人是彭立軍、羅偉、周家喜、張靖、鄭雨陽、顧鈺。
基本介紹
- 中文名：一種自帶AD9361晶片的系統的多通道測試方法及裝置
- 授權公告號：CN109462460B
- 授權公告日：2021年6月18日
- 申請號：2018114057183
- 申請日：2018.11.23
- 專利權人：中國電子科技集團公司第三十八研究所
- 地址：230000安徽省合肥市高新技術開發區香樟大道199號
- 發明人：彭立軍; 羅偉; 周家喜; 張靖; 鄭雨陽; 顧鈺
- Int. Cl.：H04L1/24(2006.01)I
- 專利代理機構：H04L1/24(2006.01)I
- 代理人：王林
專利摘要
本發明公開了一種自帶AD9361晶片的系統的多通道測試方法及裝置，配置AD9361模組，進入校正模式，由信號源發射正交單音信號；利用AD9361模組的發射功能發射單音信號，同時利用系寒紙再趨統自帶的多個AD9361通道進膠尋棗行項簽祖校正數據的接收；對所有通道接收笑榜龍數據進行計算，然後進入驗證模式，由信號源傳送單載波信號；利用AD9361模組的發射和接受驗證數據，利用計算得到的每個通紙探道的延遲、幅度和相位值，對每個通道進行參數補償；對驗證數晚汗付厚據進行接收和觀察，如果接收到的信號對應的延遲、幅度和相位完全一致，則說明測試方法有效。本發明提出的方法通用性高，不需要額外的硬體設計，僅需要提供合理的計算資源即可；本發明提出的方法簡單易行，凳晚芝能夠滿足各種場景下的使用需求。
