一種功率半導體特性參數測試系統

一種功率半導體特性參數測試系統

《一種功率半導體特性參數測試系統》是國網浙江省電力有限公司電力科學研究院、浙江大學紹興微電子研究中心、國網浙江桐鄉市供電有限公司於2021年2月23日申請的專利,該專利公布號為CN112986782A,專利公布日為2021年6月18日,發明人是王異凡、龔金龍、楊青、劉黎、王一帆、孫明、林氦、鄧志江、曾振源、張斌、陳少華、宋琦華、周迅、張顯堡、黃繼來。

基本介紹

  • 中文名:一種功率半導體特性參數測試系統
  • 申請日:2021年2月23日
  • 公布日:2021年6月18日
  • 公布號:CN112986782A
  • 申請號:2021102029466
  • 申請人:國網浙江省電力有限公司電力科學研究院; 浙江大學紹興微電子研究中心; 國網浙江桐鄉市供電有限公司
  • 地址:310014浙江省杭州市下城區朝暉八區華電弄1號
  • 發明人:王異凡; 龔金龍; 楊青; 劉黎; 王一帆; 孫明; 林氦; 鄧志江; 曾振源; 張斌; 陳少華; 宋琦華; 周迅; 張顯堡; 黃繼來
  • Int. Cl.:G01R31/26(2014.01)I
  • 專利代理機構:浙江翔隆專利事務所(普通合夥)33206
  • 代理人:張建青
專利摘要
本發明涉及功率半導體特性參數測試技術領域,提供了一種功率半導體特性參數測試系統,包括低壓儀表設備單元、低壓控制單元、高壓儀表設備單元、高壓控制單元、器件適配單元和測試主控單元;低壓控制單元包括低壓項目相關部件和繼電器組;繼電器組分別設於低壓項目相關部件、低壓儀表設備單元和待測功率器件之間並根據不同類型的低壓參數測試項目預設對應的導通狀態;繼電器組按照預設導通狀態使低壓項目相關部件、低壓儀表設備單元和待測功率器件之間切換連線狀態以形成與測試項目對應的測試電路;將低壓測試項目的測試電路整合到一起,通過繼電器組,可以更改測試連線方式,自動實現不同測試項目的切換。

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