《一種光學遙感衛星成像質量確定方法及系統》是中國科學院合肥物質科學研究院於2019年7月22日申請的專利，該專利公布號為CN110363758B，專利公布日為2021年6月18日，發明人是徐偉偉、楊寶雲、張黎明、沈政國。
基本介紹
- 中文名：一種光學遙感衛星成像質量確定方法及系統
- 授權公告號：CN110363758B
- 授權公告日 ：2021.06.18
- 申請號 ：2019106597095
- 申請日：2019.07.22
- 專利權人：中國科學院合肥物質科學研究院
- 地址：230031安徽省合肥市蜀山區蜀山湖路350號
- 發明人：徐偉偉; 楊寶雲; 張黎明; 沈政國
- Int. Cl.：G06T7/00(2017.01)I; G06T7/262(2017.01)I; G06T5/10(2006.01)I
- 專利代理機構：北京高沃律師事務所11569
- 代理人：劉鳳玲
對比檔案,專利摘要,
對比檔案
CN 103268602 A,2013.08.28; CN 103970993 A,2014.08.06
徐偉偉等.“基於反射點源的高解析度光學衛星感測器在軌調製傳遞函式檢測”.《光學學報》.2017,第37卷(第7期),; Zhen Lv etc..“Joint image registration and point spread function estimation for the super-resolution of satellite images”.《Signal Processing:Image Communication》.2017,
專利摘要
本發明公開了一種光學遙感衛星成像質量確定方法及系統。所述方法包括：獲取點光源遙感影像計數值；點光源為布設在地面的自動化反射式點光源；點光源遙感影像計數值是由光學遙感衛星成像系統得到的；依據點光源遙感影像計數值和光學遙感衛星成像系統的點擴散函式，構建回響值目標函式；點擴散函式採用高斯模型表示；採用最小二乘法對回響值目標函式進行求解，得到點光源遙感影像的像點坐標值；依據像點坐標值，確定光學遙感衛星的成像質量。本發明能夠提高對光學遙感衛星成像質量確定的準確度。
