Ⅳ族支撐團簇及其構成薄膜的結構和光電性質

Ⅳ族支撐團簇及其構成薄膜的結構和光電性質

《Ⅳ族支撐團簇及其構成薄膜的結構和光電性質》是依託南京大學,由王廣厚擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:Ⅳ族支撐團簇及其構成薄膜的結構和光電性質
  • 項目類別:面上項目
  • 項目負責人:王廣厚
  • 依託單位:南京大學
  • 負責人職稱:教授
  • 批准號:19574026
  • 申請代碼:A2004
  • 研究期限:1996-01-01 至 1998-12-31
  • 支持經費:9(萬元)
項目摘要
首次用蒸發和惰性氣體冷凝法製得直徑約4納米的Si團簇,嵌入多孔矽基體中,形成準自由團簇。雷射拉曼譜發現,除了多孔矽的主峰外,首次觀察到幾個寬度很窄的低頻峰,分別為27、37和195厘米。它們分別對應於球形自由矽團簇表面振動模SA(O)、SA(2)以及表面模與TA模的組合TA(L)+SA(1)。這些峰在多孔矽、單晶矽和非晶矽中均未出現過。成功地製備了Ge團簇構成緻密的納米膜,首次觀察到大的帶隙蘭移(2.00eV)以及發射強的光致蘭光和紫光。其多峰結構,除了Ge團簇芯中激子的量子約束效應外,在表面和界面的缺陷中心(Ge2O)存在單態和三態的輻射躍遷。為直接利用Ge團簇製備光電組合器件提供了可能的途徑。

熱門詞條

聯絡我們